Бесконтактный 3D-сканирующий профилометр

Серия профилометров NV (NanoSystem, Корея) предназначена для бесконтактного 3D измерения поверхности способом сканирующей интерферометрии белого света.

  • точность 0,1 нм в вертикальном направлении,0,2 микрона в горизонтальном направлении
  • диапазон сканирования 270 мкм
  • удобный и простой интерфейс
  • быстрота измерений
  • бесконтактное измерение исключает повреждение поверхности образца
  • высокая воспроизводимость результатов измерений
  • вывод изображения в 2D и 3D формате
  • возможность «сшивания» нескольких изображений

Особенности NV-3200

  • автофокус
  • моторизированный стол (300×300 мм)
  • перемещение по оси Z (верх-вниз) 100 мм — моторизированное
  • 5 объективов
  • моторизированная турель
rfwbs-sliderfwbs-sliderfwbs-sliderfwbs-sliderfwbs-sliderfwbs-sliderfwbs-sliderfwbs-sliderfwbs-sliderfwbs-sliderfwbs-slide