Бесконтактный 3D-сканирующий профилометр

Серия профилометров NV (NanoSystem, Корея) предназначена для бесконтактного 3D измерения поверхности способом сканирующей интерферометрии белого света.

• точность 0,1 нм в вертикальном направлении,0,2 микрона в горизонтальном направлении
• диапазон сканирования 270 мкм
• удобный и простой интерфейс
• быстрота измерений
• бесконтактное измерение исключает повреждение поверхности образца
• высокая воспроизводимость результатов измерений
• вывод изображения в 2D и 3D формате
• возможность «сшивания» нескольких изображений

Особенности NV-2400

• экономичная модель
• моторизованный стол (100х100 мм)
• перемещение по оси Z (верх-вниз) 100 мм — ручное
• 5 объективов
• ручная турель